埃氏硬度测试

使用扫描电镜可以进行断口和拓扑结构的分析研究。图像显示可以自动通过背散射电子(BSE)检测器和二次电子(SE)同时显示。通过能量色散微量分析(EDX)技术我们可以分析测试材料的元素组成,相,异物和杂质(NME)的定性特性和半定量特性。所得到的结果可以通过图像,表格,局部高分辨率图形的形式在软件层面展示出来。

  • 微观断裂特性检测
  • 微观结构分析
  • 确定断口区域
  • 裂纹扩展分析
  • 引起断裂的参数的检测
  • 异物相的检测(夹杂的杂质)
  • 缺陷检测
  • 微粒分析
  • 能量色散微量分析
  • 三维展示
  • 细节颜色编码