Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Mit dem Rasterelektronenmikroskop werden fraktografische, topografische und analytische Untersuchungen durchgeführt. Die Bilddarstellung erfolgt simultan über die Sekundärelektronen (SE) - und Rückstreuelektronen (BSE) Detektoren. Mit der energiedispersiven Mikrobereichsanalyse (EDX) detektieren wir die elementare Zusammensetzung der zu untersuchenden Werkstoffe, Phasen, Fremdmaterialien und Einschlüssen (NME) sowohl qualitativ, als auch semi-quantitativ. Die Darstellung erfolgt grafisch, tabellarisch oder ortsaufgelöst und bildlich unter der Anwendung der Mappingfunktion.

• Detektion von mikroskopischen Bruchmerkmalen
• Mikrostrukturanalysen
• Bestimmung von Bruchausgangsbereichen
• Rissfortschrittsanalysen
• Detektion bruchauslösender Parameter
• Detektion von Fremdphasen (Einschlüsse, Verunreinigung)
• Fehlstellendetektion
• Partikelanalysen
• Energiedispersive Mikrobereichsanalyse
• 3D- Darstellung
• Farbcodierung von Details