Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Mit dem Rasterelektronenmikroskop werden fraktografische, topografische und analytische Untersuchungen durchgeführt. Die Bilddarstellung erfolgt simultan über die Sekundärelektronen (SE) - und Rückstreuelektronen (BSE) Detektoren. Mit der energiedispersiven Mikrobereichsanalyse (EDX) detektieren wir die elementare Zusammensetzung der zu untersuchenden Werkstoffe, Phasen, Fremdmaterialien und Einschlüssen (NME) sowohl qualitativ, als auch semi-quantitativ. Die Darstellung erfolgt grafisch, tabellarisch oder ortsaufgelöst und bildlich unter der Anwendung der Mappingfunktion.
- Detektion von mikroskopischen Bruchmerkmalen
- Mikrostrukturanalysen
- Bestimmung von Bruchausgangsbereichen
- Rissfortschrittsanalysen
- Detektion bruchauslösender Parameter
- Detektion von Fremdphasen (Einschlüsse, Verunreinigung)
- Fehlstellendetektion
- Partikelanalysen
- Energiedispersive Mikrobereichsanalyse
- 3D- Darstellung
- Farbcodierung von Details