- Leistungen
- Werkstoffuntersuchung und Schadensanalyse
- Makroskopie und Stereoskopie
- Metallografie / Materialografie
- Härteprüfung
- Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Rasterelektronenmikroskop Zeiss Merlin Gemini
- Chemische und physikalische Werkstoffanalysen
- Zerstörungsfreie Prüfverfahren
- Röntgeninspektionssysteme
- Umweltsimulation & Schadensanalyse
- Additive Fertigung
- Pulvercharakterisierungsverfahren PowderGenetics®
- Eigenspannungsmessung
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Mit dem Rasterelektronenmikroskop werden fraktografische, topografische und analytische Untersuchungen durchgeführt. Die Bilddarstellung erfolgt simultan über die Sekundärelektronen (SE) - und Rückstreuelektronen (BSE) Detektoren. Mit der energiedispersiven Mikrobereichsanalyse (EDX) detektieren wir die elementare Zusammensetzung der zu untersuchenden Werkstoffe, Phasen, Fremdmaterialien und Einschlüssen (NME) sowohl qualitativ, als auch semi-quantitativ. Die Darstellung erfolgt grafisch, tabellarisch oder ortsaufgelöst und bildlich unter der Anwendung der Mappingfunktion.
- Detektion von mikroskopischen Bruchmerkmalen
- Mikrostrukturanalysen
- Bestimmung von Bruchausgangsbereichen
- Rissfortschrittsanalysen
- Detektion bruchauslösender Parameter
- Detektion von Fremdphasen (Einschlüsse, Verunreinigung)
- Fehlstellendetektion
- Partikelanalysen
- Energiedispersive Mikrobereichsanalyse
- 3D- Darstellung
- Farbcodierung von Details
IABG Schadensanalyse Hotline
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