埃氏硬度测试
使用扫描电镜可以进行断口和拓扑结构的分析研究。图像显示可以自动通过背散射电子（BSE）检测器和二次电子（SE）同时显示。通过能量色散微量分析（EDX）技术我们可以分析测试材料的元素组成，相，异物和杂质（NME）的定性特性和半定量特性。所得到的结果可以通过图像，表格，局部高分辨率图形的形式在软件层面展示出来。
- 微观断裂特性检测
- 微观结构分析
- 确定断口区域
- 裂纹扩展分析
- 引起断裂的参数的检测
- 异物相的检测（夹杂的杂质）
- 缺陷检测
- 微粒分析
- 能量色散微量分析
- 三维展示
- 细节颜色编码
IABG 探伤事业部 专线
固定电话：: +49 89 6088-2743
电子邮件: schadensanalyse@iabg.de
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